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JAIMAコンファレンス

開催概要 プログラム一覧 JAIMAフォーラム/シンポジウム 東京コンファレンス2010
 
開催概要
多岐にわたる内容で40テーマ以上のセミナー等を開催します。聴講方法はこちら
日時 2010年8月31日(火)〜9月3日(金)10:00〜17:00
場所 幕張メッセ 国際会議場
主催 (社)日本分析機器工業会
同時開催 東京コンファレンス2010
(主催:(社)日本分析機器工業会、(社)日本分析化学会)
参加団体
(7月現在)

AOACインターナショナル日本セクション
エコケミストリー研究会
応用物理学会 有機分子・バイオエレクトロニクス分科会(M & BE分科会)
(独)科学技術振興機構 
(独)産業技術総合研究所 計量標準計総合センター
室内環境学会
一般社団法人 全国給水衛生検査協会
糖鎖産業技術フォーラム(GLIT)
日本化学会環境・安全推進委員会
日本科学機器団体連合会
(社)日本環境測定分析協会
(財)日本規格協会 表面化学分析技術国際標準化委員会
(社)日本顕微鏡学会
(財)日本適合性認定協会
(社)日本分光学会
(社)日本分析化学会 分離分析関係研究懇談会
(社)日本分析化学会
(社)日本分析機器工業会
(社)表面分析研究会/(独)物質・材料研究機構 共用基盤部門 分析支援ステーション
特定非営利法人分析産業人ネット
メタボリック・プロファイリング研究会 *順不同



聴講方法 :  手続きの流れは以下のようになります。

(1) 分析展2010/科学機器展2010入場事前登録を8月21日までに行ってください。入場証(バーコード付)を郵送いたします。※8月22日以降も事前登録は可能ですが、入場証の郵送ができませんので、登録完了メール(バーコード付)をプリントアウトして会場受付までご持参ください。
(2) 分析展2010/科学機器展2010オフィシャルガイドもしくはホームページで聴講希望のセッションをご確認いただき、事前登録が必要なものは、各主催団体へご連絡ください。
(3) 当日は、以下の会場見取り図のマークのいずれかの受付で、分析展2010/科学機器展2010入場証(バーコード付)または登録完了メール(バーコード付)をプリントアウトした紙(バーコード付)をご呈示ください。<分析展2010/科学機器展2010入場手続の完了です。>
(4) 各会場で、セッションにご参加ください。
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会場全体見取図
会場全体見取図
拡大表示「会場全体見取図」 (PDF形式:54KB)

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