小間番号：4A-201
東陽テクニカ （とうようてくにか）
TOYO Corporation
- 一般展示
- 新技術説明会
URL： https://www.toyo.co.jp/microscopy/
プライバシーポリシー：https://www.toyo.co.jp/privacy/
■事業内容
東陽テクニカで情報通信、自動車、環境エネルギー、EMC（電磁環境両立性）、海洋調査、ソフトウェア開発、ライフサイエンス、情報セキュリティ、材料分析など多岐にわたり、"はかる"技術のリーディングカンパニーとして、最先端の計測ソリューションを世界の産業界に提供し、技術革新を支援・促進しております。
■みどころ・出展製品
従来のGaイオンFIBに比べて50倍以上のミリングレートを有し、ダメージレスでmmオーダーの大容量加工を実現するTESCAN社製XeプラズマFIB-SEMシステム、およびそのオプションの1つであるTOF-SIMS機能についてご紹介をいたします。 また高い時間分解能を誇るTESCAN社製ダイナミックX線マイクロCTシステム、およびそのオプション機能である、材料内部の化学情報を3次元的に観察が行えるSPECTRAL CTをご紹介します。硬質膜から高分子材料まで幅広い材料の機械的特性評価を実現するKLA社製高分解能ナノインデンターによるデモンストレーションをご覧いただけます。 世界標準のNanoWorld社製AFM/SPM用プローブもご紹介しております。
■新技術説明会
| 日時 | テーマ（内容） | 会場 |
|---|---|---|
| 9月8日（木） 12:00～12:30 | SEM/FIB-SEMとToF-SIMS、Raman、ナノインデンター、AFM、SBFIを組み合わせた相関分析技術の概要とその応用例 | A8 |