小間番号：S-4
日本マーテック （にほんまーてっく）
MA-tek Japan Inc.
- mini/ソリューション
展示コーナー
■事業内容
半導体を中心としたエレクトロニス分野、自動車分野、ライフサイエンス分野、材料分野においてお客様のご要望に応じて信頼性試験、不良解析、材料分析のサービスをご提供します。名古屋ラボには、集束イオンビーム装置(FIB)以外に透過型電子顕微鏡(TEM)(Talos/Titan)や原子分解電子顕微鏡(NEOARM)を設置しております。
■みどころ・出展製品
TEMによる液中試料観察を容易かつリーズナブルにする自社開発の画期的なツール「K-KIT」を展示しています。使い捨てのためコンタミの心配がなくホルダーの洗浄も必要ないため複数の試料を次々に観察するといった使い方に適しています。また各社TEMの標準ホルダーで使用可能で、高価な機器の導入やカスタマイズも不要です。
■製品情報
各種受託分析のご紹介
各種受託分析や電子顕微鏡のサンプル加工をリーズナブルかつ高品質・短納期でご提供いたします。
TEM用液中試料観察ツール 「K-KIT」
専用ホルダー不要、液中試料のTEM観察を効率よくかつ低コストで実現します。