出展社詳細

小間番号:5B-701

アルバック・ファイ (あるばっくふぁい)

ULVAC-PHI, Inc.

  • 一般展示
  • 新技術説明会
  • WebExpo

■事業内容

アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置 「X線光電子分光分析装置(XPS)」、「硬X線光電子分光分析装置(HAXPES)」、「二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS,D-SIMS)」、「走査型オージェ電子分光分析装置(AES)」のトップメーカーとして、先進的な表面分析ソリューションをご提供いたします。

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■みどころ・出展製品

電池開発に欠かせない表面分析技術を先進の自動搬送プラットフォームに集約したフルオート多機能走査型XPS、および微小領域の表面質量分析を極めた多機能TOF-SIMSを紹介いたします。

■新技術説明会

日時 テーマ(内容) 会場
9月7日(水) 12:45~14:15 FIB-TOFによる埋もれた界面のin-situイメージング A3
9月8日(木) 15:00~15:30 最新のXPS分析装置による全固体電池への応用事例 A1