小間番号:5B-405 アメテック (あめてっく) AMETEK Co, Ltd
  • 一般展示

■事業内容

AMETEK, Inc.は50を超える様々な事業部により構成されている企業で、米国およびその他30カ国において100以上の販売・サービス拠点を運営しています。
超精密測定機器や加工装置、素材分析装置、EMC機器、耐候性試験装置などを製造、販売しております。

■製品情報

  • SEM用EDS/WDSインテグレーションシステム

    高感度な平行ビームWDSとシリコンナイトライドSDDの組み合わせで、低電流・低加速EDS/WDS同時分析を実現

  • SEM用EDS/EBSDインテグレーションシステム

    EDS/EBSD同時分析のChiScanで確かな相分離が可能、この結果に基づく新たな材料分析・組織解析を実現

  • SEM用シリコンナイトライドウィンドウSDD

    シリコンナイトライドウィンドウを採用しX線透過率が向上、またX線計数率が30%以上増え高速分析が可能

  • SEM用直接検出型EBSD検出器

    電子直接検出技術を採用し、ビームセンシティブな試料の低照射電流におけるEBSD解析を実現

  • SEM用OnPoint BSE検出器とOctane SDD検出器

    強度差組成決定法により、一桁の質量パーセントのリチウムの定量マッピングを実現

  • IMS 7f-Auto: 二重収束磁場セクタ型SIMS

    高質量分解能と高透過率を両立。自動分析が可能。
    微量元素と同位体の高精度深さ分析、イメージングが可能。

  • NanoSIMS50L: 高分解能磁場セクタ型SIMS

    50nm以下の空間分解能を達成したイメージングSIMS。
    高質量分解能、7種類の二次イオンを同時取得可能。

  • LEAP5000: 高性能3次元アトムプローブ

    絶縁物を含めた固体中元素をサブnmの高分解能と検出性能により3Dマッピング、完全自動分析機能を追加可能。

  • EIKOS-UV: 普及型3次元アトムプローブ

    LEAP5000同様、ほぼ原子分解能で試料中の元素分布を定量的に捉えることが可能。

■SNS

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