小間番号:4A-501 大塚電子 (おおつかでんし) OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
  • 一般展示
  • 新技術説明会
  • WebExpo

■事業内容

大塚電子は、光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く会社です。

●分析機器事業
 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱技術を幅広い分野に応用

●分光計測機器事業
 長年培ってきた分光計測技術と解析技術を新たな世界に展開

●医用機器事業
 最先端技術を集結し、臨床検査・医療機器開発で人々の健康に貢献

■みどころ・出展製品

”大塚電子だからできる"光散乱/光計測"技術のご提案”をテーマにご紹介

●ゼータ電位と粒子径から分散・安定性の評価が可能
 ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
●ナノ粒子を最大50検体連続で測定可能
 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA+ オートサンプラーAS50
●球晶径・相構造のダイナミックス解析を容易に
 高分子相構造解析システム PP-1000
●前処理なしで陽/陰イオン・有機酸・金属などの一斉分析
 キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100
●非破壊・非接触・顕微で高速・高精度に薄膜を計測
 顕微分光膜厚計 OPTM series

■製品情報

  • ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム


    PDFを拡大表示する

    希薄溶液から濃厚溶液(0.00001~40%)でナノ粒子(0.6nm~10μm)のゼータ電位・粒子径測定です。

  • 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA


    PDFを拡大表示する

    品質管理のニーズを更に追求した機能を各種搭載した動的光散乱法による粒子径測定装置(0.6nm~10μm)です

  • キャピラリー電気泳動システムAgilent 7100


    PDFを拡大表示する

    陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析

  • 顕微分光膜厚計 OPTMseries


    PDFを拡大表示する

    顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能

  • 高分子相構造解析システム PP-1000


    PDFを拡大表示する


    小角光散乱法(SALS)を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに、連続的に評価可能

  • ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム


    PDFを拡大表示する

    ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定が可能

■資料ダウンロード

■新技術説明会

日時 テーマ(内容) 会場
11月9日(火) 11:30~12:20

新製品『ELSZneo』ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムのご紹介 ~光散乱による物性評価はELSZneoで新たなステージへ~

301
日時 11月9日(火) 11:30~12:20
テーマ(内容)

新製品『ELSZneo』ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムのご紹介 ~光散乱による物性評価はELSZneoで新たなステージへ~

会場 301

■WebExpo

検索結果一覧に戻る
  • 展示場ブースレイアウトはこちら