小間番号:5B-601 アルバック・ファイ (あるばっくふぁい) ULVAC-PHI, Inc.
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■事業内容

アルバック・ファイは、表面分析装置「X線光電子分光分析装置(XPS)」、「二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS,D-SIMS)」、「走査型オージェ電子分光分析装置(AES)」のトップメーカーとして、先進的な表面分析装置をご提供いたします。

■みどころ・出展製品

表面分析の可能性を拡げる多彩な技術をご紹介します。UPS/LEIPS、ガスクラスターイオン銃の搭載が可能なマルチテクニックXPS、MS/MS搭載のTOF-SIMS、硬X線と軟X線によるデュアルX線を用いたHAXPES、AES(SAM)や四重極型SIMS(D-SIMS)まで、最新の表面分析技術で広がるニーズに応えます。

■新技術説明会

日時 テーマ(内容) 会場
11月9日(火) 15:05~15:30

アルバック・ファイの最新のTOF-SIMS分析装置とその応用事例

302
11月10日(水) 11:05~11:30

アルバック・ファイの最新のXPS分析装置とその応用事例

101
日時 11月9日(火) 15:05~15:30
テーマ(内容)

アルバック・ファイの最新のTOF-SIMS分析装置とその応用事例

会場 302
日時 11月10日(水) 11:05~11:30
テーマ(内容)

アルバック・ファイの最新のXPS分析装置とその応用事例

会場 101

■WebExpo

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