小間番号:4A-302 日本レーザー (にほんれーざー) Japan Laser Corporation
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■事業内容

日本レーザーは、レーザー及び光関連製品の専門商社です。理化学用・産業用レーザー、レーザー加工装置、また光を利用した分析装置等の幅広い製品を取り扱っています。また、お客様のより高度なニーズに応えるため、応用分野における技術的提案や、海外製品も安心して導入頂けるトータルサポートを推進しています。

■みどころ・出展製品

最新のAFM-IR技術を採用し、空間分解能< 10mmを達成した赤外分析装置や、お客様のニーズに合わせてお選びいただける、幅広いアプリケーションに対応した高速・高性能なレーザーアブレーション装置等の分析機器をご紹介します。
その他出展品:3D測定顕微鏡、原子間力顕微鏡、QCL-IR赤外分析装置、基板用欠陥検査装置、QCM-D測定装置、ナノインデンター装置、インラインフォトメータ

■製品情報

  • Molecular Vista社 AFM-IR / ナノ赤外分光

    PiFM / AFM-IR 空間分解能:10nm以下、表面感度:1nmから数nm。ナノスケールIRケミカルイメージング。

  • ESL社 高性能 レーザーアブレーション装置

    お客様のニーズに合わせて、幅広いアプリケーションで高速・高精度のレーザーアブレーションをご提供。

  • Sensofar社 3D測定顕微鏡 "S neox"

    非破壊でサンプル表面の微細な3D形状や粗さを測定・解析することができる顕微鏡型の測定機です。

  • 低価格AFM / KFM / C-AFM / 大型サンプル

    エントリーからハイエンドまで、用途に合わせたAFM(原子間力顕微鏡)をご紹介します。

  • ケミカルイメージング QCL-IR顕微鏡 Spero

    広視野・超高速でのケミカルイメージングが可能な顕微鏡。デジタル病理・QCL-IRイメージング

  • Daylight社 ガス・液体 QCL-IR赤外分析装置

    QCL-IRを採用した小型の赤外分析装置。ガス、溶液中の物質の同定または濃度をリアルタイムで測定します。

  • Lumina Instruments社 基板用欠陥検査装置

    高速・高感度 欠陥検査イメージング装置。オングストローム欠陥の検出。FPD/ガラス/半導体

  • 3T analytik社 QCM-D測定装置 "qCell T"

    質量変化だけでなく、吸着性の分析から粘弾性と膜厚の解析をリアルタイムで行います。高性能で低価格。

  • Micro Materials社 ナノインデンター装置

    -100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)測定が可能な研究用途向けの装置。

  • KEMTRAK社 インラインフォトメータ

    濃度・濁度・色に関する情報をリアルタイムかつインラインで測定。産業プロセス向け。

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