1914年にドイツの科学者マックス・フォン・ラウエがＸ線の回折現象を証明し、ノーベル物理学賞を受賞して100年以上が経過しました。
Ｘ線回折を含むＸ線分析技術は、新素材開発における物性・状態・組成評価や新薬開発時の結晶構造決定のほか、様々な製造分野の品質管理に利用されています。今日、分析装置と検出器、ソフトウェアの著しい進歩により、Ｘ線分析はより身近な手法に進化しています。
古くて新しいＸ線分析の魅力を、より多くの皆様に知っていただくため、Ｘ線回折の分析例を中心に日本語・英語で紹介します。