東京ダイレック(株)

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主な出展製品

【走査式モビリティーパーティクルサイザー SMPS3938シリーズ】  気相計測技術におけるナノ粒子計測のスタンダードであるDMA法の応用により、ナノ材料評価(溶液状態・微粉体状態)における新しいステップを提案致します。計測原理であるDMA法(電気移動度法)は動的光散乱方式(DLS)等では難しかった複数のピークが存在する多分散サンプルへの対応や、ナノレベルでの分級抽出・粒度分布測定を可能にします。 〜測定原理〜  SMPS3938は粒子の電気移動度を利用して分級し、凝縮粒子カウンター(CPC)にて個数濃度を測ることでサブミクロン領域の粒径分布計測を可能にしています。  サンプル粒子は中和器を通り、フックの平衡帯電分布に基づいた一定の帯電状態に保たれます。  帯電された粒子はDMAへ運ばれ、DMA内部の中央にはマイナスに印加された高電圧ロッドがあり、マイナス帯電された粒子は外壁側に反発し、プラスに帯電された粒子は中央の高電圧ロッドに引き寄せられます。  電圧ロッドの設定電圧に応じた粒径の単分散粒子のみが電圧ロッドの下部にあるスリットをすり抜けCPCへ流れます。  電圧は連続的に上昇し、CPCへ運ばれる粒子の粒径サイズも小さい粒径から大きい粒径へと変化し、順次分級されます。  分級後の粒子をCPCでカウントを行い、粒径分布測定を行えます。

見どころ情報

 ナノ粒子・サブミクロン粒子・マイクロサイズ粒子の計測器なら、東京ダイレックへ。ナノ粒子の電気移動度を用いた精密分級技術により、サイズ分解能の高いナノ粒子〜サブミクロン粒子の測定が可能です。高濃度、高圧(〜1MPa)、高温(〜250℃)など様々なシーンで耐久性を発揮するパーティクルカウンターや、PM2.5質量・成分分析装置、フィル性能試験装置など、世界各国の希少な微粒子測定技術が、当社に結集しております。  今回展示する走査式モビリティーパーティクルサイザー SMPS 3938シリーズは、計測標準における相対測定法であるDMA法を用いた、ナノ材料評価(溶液状態・微粉体状態)の新ステップを提案致します。DMA法(電気移動度法)は、動的光散乱方式(DLS)等では難しかった、複数のピークが存在する多分散サンプルへの対応が可能になり、ナノレベルでの分級抽出・粒度分布測定を可能にします。インク溶液、高分子溶液、金属微粒子、CMPスラリー等の個数濃度評価、凝集性評価、分散性評価に最適です。 【特徴】  ・最大1nm〜1000nmレンジを高分解能評価  ・粒子個数評価による存在比測定  ・1量体、2量体を見分ける分解能  ・粒子分級抽出が可能   

関連情報
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