大塚電子(株)

ブースNo.6B-401Website
主な出展製品

今回のJASIS2020の出展製品は、大塚電子の”光散乱製品群の物性評価装置“を出展いたします。キャピラリー電気泳動法による「分離分析装置」、半導体・機能性フィルムで好評を頂いています「膜厚装置」の出展と共に、不透明、粗面、変形しやすいプレートを対象に10ミクロ〜5ミリの厚み測定する「厚み計」を新規展示いたします。是非ともお立ち寄りください。
出展機種といたしましては、
■ゼータ電位・粒径・分子量測定システム(ELSZ-2000 series)、
■多検体ナノ粒子径測定システム(nanoSAQLA)、
■高分子相構造解析システム(PP-1000)、
■キャピラリ電気泳動システム(Agilent 7100)、
■顕微分光膜厚計(OPTM series)、
■非接触光学式厚み計

また、新技術説明会は、光散乱法による粒子径測定・ゼータ電位および高分子相構造解析測定に関して興味あるかたの聴講をお待ちしております。
■12日(木)10:25−11:15、部屋番号A-5:フィルム評価トータルソリューション 内部構造変化のリアルタイム評価から多層膜厚評価、「抜け」のない全幅・全長膜厚評価まで
■13日(金)11:30−12:20、部屋番号A-2:光散乱法によるゼータ電位・粒子径の測定技術と新たな物性評価のご提案

皆様のご来場をおまちしております。

見どころ情報

大塚電子ブースの見どころは、「ナノサイズ微粒子・機能性材料分析を光散乱(粒子径・ゼータ電位・分子量・相構造)ではかる」、「分離分析をキャピラリー電気泳動ではかる」、「ナノメートルの厚みからの薄膜解析(膜厚・光学定数)、マイクロメータの厚みからの厚み測定をはかる」を主なテーマに関連機器を展示します。 また、新技術説明会では下記の2テーマでセミナーを行います。 ●11月12日(木) 10:25〜11:15 A-5室  フィルム評価トータルソリューション 内部構造変化のリアルタイム評価から多層膜厚評価、「抜け」のない全幅・全長膜厚評価まで ●11月13日(金) 11:30〜12:20 A-2室  光散乱法によるゼータ電位・粒子径の測定技術と新たな物性評価のご提案

関連情報
セミナー情報
フィルム評価トータルソリューション 内部構造変化のリアルタイム評価から多層膜厚評価、「抜け」のない全幅・全長膜厚評価まで
大塚電子(株)
25分/50分 50分 言語 日本語
開催日 2020/11/12 時間 10:25〜11:15
部屋 A-5 分野 ナノ・材料
内部構造(球晶、高分子相構造)を見る小角光散乱技術と膜厚(多層膜、全幅・全長)を測定する分光干渉技術をもつ大塚電子のソリューションをご紹介します!
光散乱法によるゼータ電位・粒子径の測定技術と新たな物性評価のご提案
大塚電子(株)
25分/50分 50分 言語 日本語
開催日 2020/11/13 時間 11:30〜12:20
部屋 A-2 分野 ナノ・材料
光散乱を使ったナノ粒子の分散性評価・サイズ評価なら大塚電子におまかせ!高塩濃度サンプル、有機溶媒、平板のゼータ電位から、新たな物性評価のご提案まで!創業50周年を迎えた当社ならではの測定技術を提案します
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