アルバック・ファイ(株)

ブースNo.4B-604Website
主な出展製品

最新の表面分析装置および各種オプション
・硬X線を用いた走査型デュアルX線光電子分光分析装置(HAXPES)
・UPS/LEIPSやガスクラスターイオン銃の搭載が可能なマルチテクニックXPSをはじめとした走査型X線光電子分光分析装置(XPS)ラインアップ
・MS/MSオプションやガスクラスターイオン銃の搭載が可能な飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
・二次イオン質量分析装置(SIMS)
・走査型オージェ電子分光分析装置(AES)
高速分光エリプソメーター(独自のスナップショット方式)
・軽量かつ小型で容易に持ち運び可能なポータブルタイプ
・自動マッピングが可能な自動ステージタイプ(対応試料サイズ:150 o, 200 o, 300 oの3機種)

見どころ情報

表面分析の可能性を拡げる多彩な技術をご紹介します。
新技術説明会では、UPS/LEIPS、ガスクラスターイオン銃を搭載したマルチテクニックXPSによる有機薄膜の評価、MS/MSオプション搭載のTOF-SIMSによる難解なスペクトル解析について発表いたします。
展示ブースでは、新技術説明会の内容に加えて、硬X線と軟X線のデュアルX線を用いたHAXPES、AES(SAM)や四重極型SIMS(D-SIMS)まで、広がるニーズに応える表面分析装置のほか、高速分光エリプソメーターをご紹介いたします。

関連情報
セミナー情報
AES・XPS・TOF-SIMSによる全固体電池の最新の解析事例
アルバック・ファイ(株)
25分/50分 25分 言語 日本語
開催日 2020/11/12 時間 15:25〜15:50
部屋 A-2 分野 環境
アルバック・ファイが誇る最新の表面分析技術を駆使した薄膜型全固体電池の解析事例を紹介します!
多機能型XPSによるIn-situ UPS/LEIPS/REELS分析の応用事例
アルバック・ファイ(株)
25分/50分 25分 言語 日本語
開催日 2020/11/13 時間 13:45〜14:10
部屋 N-5 分野 ナノ・材料
様々な材料のIn-situバンドギャップ評価事例の紹介とともに最新情報をお届けします!
出展社ホームページ
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